Afbeelding 1 van 1
Ion Spectroscopies for Surface Analysis by Alvin W. Czanderna (English) Hardcove
Objectstaat:
3 beschikbaar
Prijs:
US $112,82
OngeveerEUR 104,21
- Nu kopenIon Spectroscopies for Surface Analysis by Alvin W. Czanderna (English) Hardcove
Verzendkosten:
Bevindt zich in: Fairfield, Ohio, Verenigde Staten
Levering:
Geschatte levering tussen di, 11 jun en za, 22 jun tot 43230
Retourbeleid:
30 dagen om te retourneren. Koper betaalt voor retourzending. Details bekijken- voor meer informatie over retourzendingen
Betalingen:
Winkel met vertrouwen
Verkopergegevens
- 98,2% positive feedback
Ingeschreven als zakelijke verkoper
De verkoper neemt de volledige verantwoordelijkheid voor deze aanbieding.
eBay-objectnummer:395142222067
Specificaties
- Objectstaat
- ISBN-13
- 9780306437922
- Book Title
- Ion Spectroscopies for Surface Analysis
- ISBN
- 9780306437922
- Series
- Methods of Surface Characterization Ser.
- Publication Year
- 1991
- Type
- Textbook
- Format
- Hardcover
- Language
- English
- Publication Name
- Ion Spectroscopies for Surface Analysis
- Item Length
- 9in
- Publisher
- Springer
- Item Width
- 6in
- Item Weight
- 31.4 Oz
- Number of Pages
- Xvii, 469 Pages
Over dit product
Product Information
Determining the elemental composition of surfaces is an essential measurement in characterizing solid surfaces. At present, many ap proaches may be applied for measuring the elemental and molecular composition of a surface. Each method has particular strengths and limitations that often are directly connected to the physical processes involved. Typically, atoms and molecules on the surface and in the near surface region may be excited by photons, electrons, ions, or neutrals, and the detected particles are emitted, ejected, or scattered ions or electrons. The purpose of this book is to bring together a discussion of the surface compositional analysis that depends on detecting scattered or sputtered ions, and the methods emphasized are those where instruments are commercially available for carrying out the analysis. For each topic treated, the physical principles, instrumentation, qualitative analysis, artifacts, quantitative analysis, applications, opportunities, and limita tions are discussed. The first chapter provides an overview of the role of elemental composition in surface science; compositional depth profiling; stimulation by an electric field, electrons, neutrals, or photons and detection of ions; and then stimulation by ions, and detection of ions, electrons, photons, or neutrals.
Product Identifiers
Publisher
Springer
ISBN-10
0306437929
ISBN-13
9780306437922
eBay Product ID (ePID)
133036
Product Key Features
Publication Name
Ion Spectroscopies for Surface Analysis
Format
Hardcover
Language
English
Series
Methods of Surface Characterization Ser.
Publication Year
1991
Type
Textbook
Number of Pages
Xvii, 469 Pages
Dimensions
Item Length
9in
Item Width
6in
Item Weight
31.4 Oz
Additional Product Features
Series Volume Number
2
Number of Volumes
1 Vol.
Lc Classification Number
Qd71-142
Table of Content
1. Overview of Ion Spectroscopies for Surface Compositional Analysis.- Glossary of Acronyms.- 1. Purposes.- 2. Introduction.- 3. Overview of Compositional Surface Analysis by Ion Spectroscopies.- 4. Ion Spectroscopies Using Ion Stimulation.- 5. Ion Spectroscopies Using Ion Detection.- References.- 2. Surface Structure and Reaction Studies by Ion-Solid Collisions.- 1. Introduction.- 2. The Experimental Approach.- 3. How to View the Process.- 4. Electronic Effects.- 5. Surface Characterization with Ion Bombardment.- 6. Conclusions and Prospects.- References.- 3. Particle-Induced Desorption Ionization Techniques for Organic Mass Spectrometry.- 1. Introduction.- 2. Spectral Effects of Primary Beam Parameters.- 3. Properties of Secondary Ions.- 4. Sample Preparation.- 5. Special Techniques.- 6. Future Prospects.- References.- 4. Laser Resonant and Nonresonant Photoionization of Sputtered Neutrals.- Glossary of Symbols and Acronyms.- 1. Introduction.- 2. Photoionization.- 3. Experimental Details.- 4. Artifacts, Quantitation, Capabilities, and Limitations.- 5. Applications.- 6. Future Directions.- 7. Summary.- References.- 5. Rutherford Backscattering and Nuclear Reaction Analysis.- 1. Introduction.- 2. Principles of the Methods.- 2. Apparatus.- 4. Quantitative Analysis and Sensitivity.- 5. Ion Scattering as a Structural Tool.- 6. Applications.- 7. Outstanding Strengths of RBS in Relation to AES, XPS, and SIMS.- References.- 6. Ion Scattering Spectroscopy.- 1. Introduction.- 2. Basic Principles.- 3. Experimental Techniques.- 4. Calculations.- 5. Analysis of Surface Composition.- 6. Structure of Crystalline Surfaces.- References.- 7. Comparison of SIMS, SNMS, ISS, RBS, AES, and XPS Methods for Surface Compositional Analysis.- 1. Purpose.- 2. Introduction.- 3. Comparison Categories or Criteria.- 4. The Surface Analysis Community.- References.- Standard Terminology Relating to Surface Analysis.- Density of Large-Diameter Ion Beams for Sputter Depth Profiling of Solid Surfaces.- Standard Guide for Specimen Handling in Auger Electron Spectroscopy, X-Ray Photoelectron Spectroscopy, and Secondary Ion Mass Spectrometry.- Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS).
Copyright Date
1991
Topic
Spectroscopy & Spectrum Analysis, Physics / Condensed Matter, Chemistry / Physical & Theoretical, Chemistry / Analytic
Lccn
91-019636
Dewey Decimal
541.3/3
Intended Audience
College Audience
Dewey Edition
20
Illustrated
Yes
Genre
Science
Objectbeschrijving van de verkoper
Informatie van zakelijke verkoper
Premier Books LLC
David Taylor
26C Trolley Sq
19806-3356 Wilmington, DE
United States
Ik verklaar dat al mijn verkoopactiviteiten zullen voldoen aan alle wet- en regelgeving van de EU.
De verkoper neemt de volledige verantwoordelijkheid voor deze aanbieding.
eBay-objectnummer:395142222067
Verzending en verwerking
Objectlocatie:
Fairfield, Ohio, Verenigde Staten
Wordt verzonden naar:
Afghanistan, Albanië, Algerije, Andorra, Angola, Anguilla, Antigua en Barbuda, Argentinië, Armenië, Aruba, Australië, Azerbeidzjan, Bahama's, Bahrein, Bangladesh, België, Belize, Benin, Bermuda, Bhutan, Bolivia, Bosnië en Herzegovina, Botswana, Brazilië, Britse Maagdeneilanden, Brunei Darussalam, Bulgarije, Burkina Faso, Burundi, Cambodja, Canada, Centraal-Afrikaanse Republiek, Chili, China, Colombia, Comoren, Cookeilanden, Costa Rica, Cyprus, Democratische Republiek Congo, Denemarken, Djibouti, Dominica, Dominicaanse Republiek, Duitsland, Ecuador, Egypte, El Salvador, Equatoriaal-Guinea, Eritrea, Estland, Ethiopië, Falklandeilanden (Islas Malvinas), Fiji, Filipijnen, Finland, Frankrijk, Gabon, Gambia, Georgië, Ghana, Gibraltar, Grenada, Griekenland, Groenland, Guatemala, Guernsey, Guinee, Guinee-Bissau, Guyana, Haïti, Honduras, Hongarije, Hongkong, IJsland, Ierland, India, Indonesië, Irak, Israël, Italië, Ivoorkust, Jamaica, Japan, Jemen, Jersey, Jordanië, Kaaimaneilanden, Kaapverdische eilanden, Kameroen, Kazachstan, Kenia, Kirgizië, Kiribati, Koeweit, Kroatië, Laos, Lesotho, Letland, Libanon, Liberia, Liechtenstein, Litouwen, Luxemburg, Macau, Macedonië, Madagaskar, Malawi, Maldiven, Maleisië, Mali, Malta, Marokko, Mauritanië, Mauritius, Mayotte, Mexico, Moldavië, Monaco, Mongolië, Montenegro, Montserrat, Mozambique, Namibië, Nauru, Nederland, Nederlandse Antillen, Nepal, Nicaragua, Nieuw-Zeeland, Niger, Nigeria, Niue, Noorwegen, Oeganda, Oezbekistan, Oman, Oostenrijk, Pakistan, Paraguay, Peru, Polen, Portugal, Qatar, Republiek Congo, Roemenië, Rwanda, Saint Kitts en Nevis, Saint Lucia, Saint Pierre en Miquelon, Saint Vincent en de Grenadines, San Marino, Saudi-Arabië, Senegal, Servië, Seychellen, Sierra Leone, Singapore, Sint-Helena, Slovenië, Slowakije, Solomoneilanden, Somalië, Spanje, Spitsbergen en Jan Mayen, Sri Lanka, Suriname, Swaziland, Tadzjikistan, Taiwan, Tanzania, Thailand, Togo, Tonga, Trinidad en Tobago, Tsjaad, Tsjechië, Tunesië, Turkije, Turkmenistan, Turks- en Caicoseilanden, Tuvalu, Uruguay, Vanuatu, Vaticaanstad, Verenigd Koninkrijk, Verenigde Arabische Emiraten, Vietnam, Wallis en Futuna, Wereldwijd, Westelijke Sahara, Zambia, Zimbabwe, Zuid-Afrika, Zuid-Korea, Zweden, Zwitserland
Uitgesloten:
APO/FPO, Alaska/Hawaï, Amerikaanse protectoraten, Barbados, Frans-Guyana, Frans-Polynesië, Guadeloupe, Libië, Martinique, Nieuw-Caledonië, Oekraïne, Panama, Papoea-Nieuw-Guinea, Russische Federatie, Réunion, Venezuela, Westelijk Samoa, Wit-Rusland
| Verzending en verwerking | Elk volgende object | Tot | Service | Levering*Zie opmerkingen over levering |
|---|---|---|---|---|
| Gratis verzending | Gratis | Verenigde Staten | Economy Shipping | Geschatte levering tussen di, 11 jun en za, 22 jun tot 43230 |
| Verwerkingstijd |
|---|
| Wordt doorgaans binnen 10 werkdagen na ontvangst van betaling verzonden. |
| Belasting |
|---|
| Er kunnen belastingen van toepassing zijn tijdens Betalen. Meer weten?Lees meer over het betalen van belastingen op eBay-aankopen. |
Btw voor objectnr.395142222067
Btw voor objectnr.395142222067
Verkoper berekent btw op objecten die naar de volgende staten worden verzonden:
| Staat/provincie | Btw-tarief |
|---|
Retourbeleid
| Nadat u het object hebt ontvangen, kunt u contact opnemen met de verkoper binnen | Terugbetaling wordt verstrekt als | Kosten voor retourzending |
|---|---|---|
| 30 dagen | Geld terug | Koper betaalt voor retourzending |
De koper is verantwoordelijk voor de kosten van de retourzending.
| Details retourbeleid |
|---|
| Retourzendingen geaccepteerd |
Betalingsgegevens
Betalingsmethoden
Populaire rubrieken in deze winkel
Ingeschreven als zakelijke verkoper
Feedback verkoper (1.023.565)
f***d (115)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Even though I got an email that the item had been shipped, I got a second email that they goofed with their inventory (which showed 3 in stock) and did not have the book. They issued a refund promptly.
a***j (51)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Great book and fast shipping!
n***u (181)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Great