Afbeelding 1 van 1

Hebt u iets om te verkopen?

Verkoop het zelf

NanoScience and Technology: Applied Scanning Probe Methods VIII : Scanning...

Objectstaat:

Nieuw

Prijs:

US $101,70

OngeveerEUR 95,21

Verzendkosten:

Gratis Expedited Shipping from outside US. Details bekijkenvoor verzending

Bevindt zich in: Bangkok, Thailand

Levering:

Geschatte levering tussen di, 2 jul en wo, 10 jul tot 43230

Retourbeleid:

30 dagen om te retourneren. Koper betaalt voor retourzending. Details bekijken- voor meer informatie over retourzendingen

Betalingen:

Winkel met vertrouwen

eBay-topverkoper

Betrouwbare verkoper, snelle verzending en eenvoudige retourzending.

Meer weten?- Topverkoper Plus: nieuw venster of tabblad

Geld-terug-garantie van eBay

Ontvang het object dat u hebt besteld of krijg uw geld terug.

Meer informatieGeld-terug-garantie van eBay - nieuw venster of tabblad

Verkopergegevens

muaythai-fighting (10470)
98,6% positive feedback

Ingeschreven als zakelijke verkoper

Dit object rapporteren - nieuw venster of nieuw tabblad

De verkoper neemt de volledige verantwoordelijkheid voor deze aanbieding.

eBay-objectnummer:362970018854

Laatst bijgewerkt op 10 nov 2022 07:42:53 CETAlle herzieningen bekijkenAlle herzieningen bekijken

Specificaties

Objectstaat: Nieuw: Een nieuw, ongelezen en ongebruikt boek in perfecte staat waarin geen bladzijden ontbreken of ...

ISBN: 9783540740797

EAN: 9783540740797

Subject Area: Technology & Engineering, Science

Publication Name: Applied Scanning Probe Methods VIII : Scanning Probe Microscopy Techniques

Publisher: Springer Berlin / Heidelberg

Item Length: 9.3 in

Subject: Spectroscopy & Spectrum Analysis, Electron Microscopes & Microscopy, Chemistry / Physical & Theoretical, Nanotechnology & Mems, Microscopes & Microscopy

Publication Year: 2008

Series: Nanoscience and Technology Ser.

Type: Textbook

Format: Hardcover

Language: English

Item Height: 0.4 in

Author: H. Fuchs, Bharat Bhushan

Item Weight: 33.5 Oz

Item Width: 6.1 in

Number of Pages: Lix, 465 Pages

Over dit product

Product Information

The success of the Springer Series Applied Scanning Probe Methods I-VII and the rapidly expanding activities in scanning probe development and applications worldwide made it a natural step to collect further speci c results in the elds of development of scanning probe microscopy techniques (Vol. VIII), characterization (Vol. IX), and biomimetics and industrial applications (Vol. X). These three volumes complement the previous set of volumes under the subject topics and give insight into the recent work of leading specialists in their respective elds. Following the tradition of the series, the chapters are arranged around techniques, characterization and biomimetics and industrial applications. Volume VIII focuses on novel scanning probe techniques and the understanding of tip/sample interactions. Topics include near eld imaging, advanced AFM, s- cializedscanningprobemethodsinlifesciencesincludingnewselfsensingcantilever systems, combinations of AFM sensors and scanning electron and ion microscopes, calibration methods, frequency modulation AFM for application in liquids, Kelvin probe force microscopy, scanning capacitance microscopy, and the measurement of electrical transport properties at the nanometer scale. Vol. IX focuses on characterization of material surfaces including structural as well as local mechanical characterization, and molecular systems. The volume covers a broad spectrum of STM/AFM investigations including fullerene layers, force spectroscopy for probing material properties in general, biological lms .and cells, epithelial and endothelial layers, medical related systems such as amyloidal aggregates, phospholipid monolayers, inorganic lms on aluminium and copper - ides, tribological characterization, mechanical properties ofpolymernanostructures, technical polymers, and near eld optics.

Product Identifiers

Publisher

Springer Berlin / Heidelberg

ISBN-10

3540740791

ISBN-13

9783540740797

eBay Product ID (ePID)

63628291

Product Key Features

Number of Pages

Lix, 465 Pages

Language

English

Publication Name

Applied Scanning Probe Methods VIII : Scanning Probe Microscopy Techniques

Publication Year

2008

Subject

Spectroscopy & Spectrum Analysis, Electron Microscopes & Microscopy, Chemistry / Physical & Theoretical, Nanotechnology & Mems, Microscopes & Microscopy

Type

Textbook

Subject Area

Technology & Engineering, Science

Author

H. Fuchs, Bharat Bhushan

Series

Nanoscience and Technology Ser.

Format

Hardcover

Dimensions

Item Height

0.4 in

Item Weight

33.5 Oz

Item Length

9.3 in

Item Width

6.1 in

Additional Product Features

Intended Audience

Scholarly & Professional

Dewey Edition

Number of Volumes

1 Vol.

Illustrated

Yes

Dewey Decimal

502.82

Lc Classification Number

Tk7875

Table of Content

Background-Free Apertureless Near-Field Optical Imaging.- Critical Dimension Atomic Force Microscopy for Sub-50-nm Microelectronics Technology Nodes.- Near Field Probes: From Optical Fibers to Optical Nanoantennas.- Carbon Nanotubes as SPM Tips: Mechanical Properties of Nanotube Tips and Imaging.- Scanning Probes for the Life Sciences.- Self-Sensing Cantilever Sensor for Bioscience.- AFM Sensors in Scanning Electron and Ion Microscopes: Tools for Nanomechanics, Nanoanalytics, and Nanofabrication.- Cantilever Spring-Constant Calibration in Atomic Force Microscopy.- Frequency Modulation Atomic Force Microscopy in Liquids.- Kelvin Probe Force Microscopy: Recent Advances and Applications.- Application of Scanning Capacitance Microscopy to Analysis at the Nanoscale.- Probing Electrical Transport Properties at the Nanoscale by Current-Sensing Atomic Force Microscopy.

2008

Objectbeschrijving van de verkoper

Informatie van zakelijke verkoper

THAI BOOK WORLD

Thailand

Ik verklaar dat al mijn verkoopactiviteiten zullen voldoen aan alle wet- en regelgeving van de EU.

De verkoper neemt de volledige verantwoordelijkheid voor deze aanbieding.

eBay-objectnummer:362970018854

Laatst bijgewerkt op 10 nov 2022 07:42:53 CETAlle herzieningen bekijkenAlle herzieningen bekijken

Verzending en verwerking

Objectlocatie:

Bangkok, Thailand

Wordt verzonden naar:

Wereldwijd

Uitgesloten:

Postbus, APO/FPO, Amerikaanse protectoraten, Guam, Midden-Amerika en de Caraïben, Oekraïne, Russische Federatie, Zuid-Amerika

Land wijzigen:

Postcode:

Verzending en verwerking	Tot	Service	Levering*Zie opmerkingen over levering
Gratis verzending	Verenigde Staten	Expedited Shipping from outside US	Geschatte levering tussen di, 2 jul en wo, 10 jul tot 43230

Opmerkingen - Levering *Geschatte leveringsdatums zijn inclusief de verwerkingstijd van de verkoper, de postcode van de verzendlocatie, de postcode van de bestemming en de tijd waarop het object wordt ontvangen, en is afhankelijk van de geselecteerde verzendservice en het ontvangstbewijs van betaling. De leveringstermijnen kunnen variëren, vooral gedurende piekperiodes.

Verwerkingstijd

Wordt doorgaans binnen 3 werkdagen na ontvangst van betaling verzonden.

Belasting

Er kunnen belastingen van toepassing zijn tijdens Betalen. Meer weten?Lees meer over het betalen van belastingen op eBay-aankopen.