Hebt u iets om te verkopen?

LOCK-IN THERMOGRAPHY: BASICS AND USE FOR EVALUATING By Otwin Breitenstein VG

Excellent Condition! Quick & Free Delivery in 2-14 days
Objectstaat:
Heel goed
Book is in Very Good Condition.  Text will be unmarked.  May show some signs of use or wear. Will ... Meer lezenover objectstaat
Prijs:
US $103,49
OngeveerEUR 95,33
Verzendkosten:
Gratis Economy Shipping. Details bekijkenvoor verzending
Bevindt zich in: US, Verenigde Staten
Levering:
Geschatte levering tussen ma, 20 mei en wo, 22 mei tot 43230
De levertijd wordt geschat met onze eigen methode op basis van onder meer de nabijheid van de koper ten opzichte van de objectlocatie, de geselecteerde verzendservice, en de verzendgeschiedenis van de verkoper. De leveringstermijnen kunnen variëren, vooral gedurende piekperiodes.
Retourbeleid:
30 dagen om te retourneren. Verkoper betaalt voor retourzending. Details bekijken- voor meer informatie over retourzendingen
Betalingen:
     

Winkel met vertrouwen

Geld-terug-garantie van eBay
Ontvang het object dat u hebt besteld of krijg uw geld terug. 

Verkopergegevens

Ingeschreven als zakelijke verkoper
De verkoper neemt de volledige verantwoordelijkheid voor deze aanbieding.
eBay-objectnummer:335341540882
Laatst bijgewerkt op 11 mei 2024 08:33:17 CESTAlle herzieningen bekijkenAlle herzieningen bekijken

Specificaties

Objectstaat
Heel goed
Een boek dat er niet als nieuw uitziet en is gelezen, maar zich in uitstekende staat bevindt. De kaft is niet zichtbaar beschadigd en het eventuele stofomslag zit nog om de harde kaft heen. Er ontbreken geen bladzijden en er zijn geen bladzijden beschadigd. Er is geen tekst onderstreept of gemarkeerd en er is niet in de kantlijn geschreven. Er kunnen zeer minimale identificatiemerken aan de binnenzijde van de kaft zijn aangebracht. De slijtage is zeer minimaal. Bekijk de aanbieding van de verkoper voor de volledige details en een beschrijving van gebreken. Alle staatdefinities bekijkenwordt in nieuw venster of op nieuw tabblad geopend
Opmerkingen van verkoper
“Book is in Very Good Condition.  Text will be unmarked.  May show some signs of use or wear. Will ...
ISBN-10
3319998242
Publication Name
Springer
Type
Hardcover
Item Height
9.21 inches
ISBN
9783319998244
Publication Year
2019
Format
Hardcover
Language
English
Book Title
Lock-In Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Author
Wilhelm Warta, Martin C. Schubert, Otwin Breitenstein
Item Length
9.3in
Publisher
Springer International Publishing A&G
Genre
Technology & Engineering, Science
Topic
Materials Science / General, Lasers & Photonics, Physics / Optics & Light, Electronics / Semiconductors, Remote Sensing & Geographic Information Systems, Electronics / General
Item Width
6.1in
Item Weight
24.1 Oz
Number of Pages
Xxi, 321 Pages

Over dit product

Product Information

This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.

Product Identifiers

Publisher
Springer International Publishing A&G
ISBN-10
3319998242
ISBN-13
9783319998244
eBay Product ID (ePID)
5038415110

Product Key Features

Book Title
Lock-In Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Author
Wilhelm Warta, Martin C. Schubert, Otwin Breitenstein
Format
Hardcover
Language
English
Topic
Materials Science / General, Lasers & Photonics, Physics / Optics & Light, Electronics / Semiconductors, Remote Sensing & Geographic Information Systems, Electronics / General
Publication Year
2019
Genre
Technology & Engineering, Science
Number of Pages
Xxi, 321 Pages

Dimensions

Item Length
9.3in
Item Width
6.1in
Item Weight
24.1 Oz

Additional Product Features

Series Volume Number
10
Number of Volumes
1 Vol.
Lc Classification Number
Qc685-689.55
Edition Number
3
Table of Content
Introduction.- Physical and Technical Basics.- Experimental Technique.- Theory.- Measurement Strategies.- Typical Applications.- Summary and Outlook.
Copyright Date
2018
Dewey Decimal
621.381548
Series
Springer Series in Advanced Microelectronics Ser.
Dewey Edition
22
Illustrated
Yes

Objectbeschrijving van de verkoper

Informatie van zakelijke verkoper

Collectible Books and Music LLC
CBM LLC
316 California Ave
# 801
89509 Reno, NV
United States
Contactgegevens weergeven
:liam-Emoc.erotsrebuz@selas
Ik verklaar dat al mijn verkoopactiviteiten zullen voldoen aan alle wet- en regelgeving van de EU.
ZUBER

ZUBER

98,1% positieve feedback
852K objecten verkocht

Gedetailleerde verkopersbeoordelingen

Gemiddelde van de afgelopen 12 maanden

Nauwkeurige beschrijving
4.8
Redelijke verzendkosten
5.0
Verzendtijd
5.0
Communicatie
4.9

Populaire rubrieken in deze winkel

Ingeschreven als zakelijke verkoper

Feedback verkoper (262.413)

7***0 (231)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Item was well packaged and arrived quickly. Communication is professional and shows their experience on eBay.
l***_ (200)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Excellent service, great book!
v***t (46)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
The item I purchased was ultimately refunded, but my overall experience with Zuber was a pleasant one. Good communication and customer service, and I would definitely purchase from them in the future.