Hebt u iets om te verkopen?

Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents: New

Objectstaat:
Nieuw
Prijs:
US $188,13
OngeveerEUR 176,12
Verzendkosten:
Gratis Standard Shipping. Details bekijkenvoor verzending
Bevindt zich in: Sparks, Nevada, Verenigde Staten
Levering:
Geschatte levering tussen do, 27 jun en di, 2 jul tot 43230
Bij geschatte leveringsdatums - nieuw venster of tabblad wordt rekening gehouden met de verwerkingstijd van de verkoper, de postcode van de verzendlocatie, de postcode van de bestemming, en het moment van aanvaarding. Geschatte leveringsdatums zijn ook afhankelijk van de geselecteerde verzendservice en de ontvangst van de betalingbetaling ontvangen - nieuw venster of tabblad. De leveringstermijnen kunnen variëren, vooral gedurende piekperiodes.
Retourbeleid:
30 dagen om te retourneren. Koper betaalt voor retourzending. Details bekijken- voor meer informatie over retourzendingen
Betalingen:
     

Winkel met vertrouwen

eBay-topverkoper
Betrouwbare verkoper, snelle verzending en eenvoudige retourzending. 
Geld-terug-garantie van eBay
Ontvang het object dat u hebt besteld of krijg uw geld terug. 

Verkopergegevens

Ingeschreven als zakelijke verkoper
De verkoper neemt de volledige verantwoordelijkheid voor deze aanbieding.
eBay-objectnummer:282828826196
Laatst bijgewerkt op 15 dec 2023 23:13:04 CETAlle herzieningen bekijkenAlle herzieningen bekijken

Specificaties

Objectstaat
Nieuw: Een nieuw, ongelezen en ongebruikt boek in perfecte staat waarin geen bladzijden ontbreken of ...
Book Title
Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and
Publication Date
2006-06-28
Pages
282
ISBN
9780387400907
Subject Area
Technology & Engineering, Science
Publication Name
Scanning Probe Microscopy : Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
Publisher
Springer New York
Item Length
9.3 in
Subject
Nanoscience, Materials Science / General, Electron Microscopes & Microscopy, Nanotechnology & Mems
Publication Year
2006
Series
Nanoscience and Technology Ser.
Type
Textbook
Format
Hardcover
Language
English
Author
Adam S. Foster, Lev Kantorovich, Andrew J. Fisher, Werner A. Hofer
Item Weight
46.2 Oz
Item Width
6.1 in
Number of Pages
Xiv, 282 Pages

Over dit product

Product Information

Scanning Probe Microscopy is a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory. Writing in a tutorial style, the authors explain from scratch the theory behind today's simulation techniques and give examples of theoretical concepts through state-of-the-art simulations, including the means to compare these results with experimental data. The book provides the first comprehensive framework for electron transport theory with its various degrees of approximations, thus allowing extensive insight into the physics of scanning probes. Experimentalists will appreciate how the materials properties influence the instrument's operation, and theorists will understand how simulations can be directly compared to experimental data. Key Features Serves as a comprehensive source of information for researchers, teachers, and students about the theory underlying the rapidly expanding field of scanning probe microscopy Provides a framework for linking scanning probe theory and simulations with experimental data Written in the style of a textbook with step-by-step examples of how theoretical concepts are used to generate state-of-the-art simulations

Product Identifiers

Publisher
Springer New York
ISBN-10
0387400907
ISBN-13
9780387400907
eBay Product ID (ePID)
48248759

Product Key Features

Number of Pages
Xiv, 282 Pages
Language
English
Publication Name
Scanning Probe Microscopy : Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
Publication Year
2006
Subject
Nanoscience, Materials Science / General, Electron Microscopes & Microscopy, Nanotechnology & Mems
Type
Textbook
Subject Area
Technology & Engineering, Science
Author
Adam S. Foster, Lev Kantorovich, Andrew J. Fisher, Werner A. Hofer
Series
Nanoscience and Technology Ser.
Format
Hardcover

Dimensions

Item Weight
46.2 Oz
Item Length
9.3 in
Item Width
6.1 in

Additional Product Features

Intended Audience
Scholarly & Professional
LCCN
2005-936713
Dewey Edition
22
Number of Volumes
1 Vol.
Illustrated
Yes
Dewey Decimal
502.8/2
Lc Classification Number
Ta418.5-.84
Table of Content
The Physics of Scanning Probe Microscopes.- SPM: The Instrument.- Theory of Forces.- Electron Transport Theory.- Transport in the Low Conductance Regime.- Bringing Theory to Experiment in SFM.- Topographic images.- Single-Molecule Chemistry.- Current and Force Spectroscopy.- Outlook.
Copyright Date
2006

Objectbeschrijving van de verkoper

Informatie van zakelijke verkoper

Alibris, Inc.
Rob Lambert
2560 9th St
Ste 215
94710-2565 Berkeley, CA
United States
Contactgegevens weergeven
:liam-Emoc.sirbila@90_skoob_flah
Ik verklaar dat al mijn verkoopactiviteiten zullen voldoen aan alle wet- en regelgeving van de EU.
AlibrisBooks

AlibrisBooks

98,5% positieve feedback
1,8M objecten verkocht

Gedetailleerde verkopersbeoordelingen

Gemiddelde van de afgelopen 12 maanden

Nauwkeurige beschrijving
4.9
Redelijke verzendkosten
4.9
Verzendtijd
4.9
Communicatie
4.9
Ingeschreven als zakelijke verkoper

Feedback verkoper (463.336)

c***l (1008)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Great transaction, thank you.
c***l (1008)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Great transaction, thank you.
c***l (1008)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Thanks for a great transaction !!