|Aangeboden in rubriek:
Deze aanbieding is verkocht op wo, 6 okt om 2:27 AM.
Hebt u iets om te verkopen?

FEI Company 19174-E Power Supply PCB Card GAIN, FPS, +3KV XL 830 FIB-SEM Used

Objectstaat:
Tweedehands
Removed from a FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope ... Meer lezenover objectstaat
Verkocht voor:
US $304,19
OngeveerEUR 280,97
Beste voorstel geaccepteerd
Dit object is aangeboden met de verkoopvorm Vaste prijs en met de optie Beste voorstel. De verkoper heeft een beste voorstel geaccepteerd.
Verzendkosten:
Gratis Standaardverzending. Details bekijkenvoor verzending
Bevindt zich in: Albuquerque, New Mexico, Verenigde Staten
Levering:
Geschatte levering tussen wo, 29 mei en vr, 31 mei tot 43230
De levertijd wordt geschat met onze eigen methode op basis van onder meer de nabijheid van de koper ten opzichte van de objectlocatie, de geselecteerde verzendservice, en de verzendgeschiedenis van de verkoper. De leveringstermijnen kunnen variëren, vooral gedurende piekperiodes.
Retourbeleid:
60 dagen om te retourneren. Verkoper betaalt voor retourzending. Details bekijken- voor meer informatie over retourzendingen
Betalingen:
     

Winkel met vertrouwen

Geld-terug-garantie van eBay
Ontvang het object dat u hebt besteld of krijg uw geld terug. 

Verkopergegevens

Ingeschreven als zakelijke verkoper
De verkoper neemt de volledige verantwoordelijkheid voor deze aanbieding.
eBay-objectnummer:173874195673
Laatst bijgewerkt op 08 jan 2021 17:39:05 CETAlle herzieningen bekijkenAlle herzieningen bekijken

Specificaties

Objectstaat
Tweedehands
Een object dat eerder al gebruikt werd. Het object kan tekens van slijtage vertonen maar werkt nog naar behoren. Dit object kan een showroommodel zijn of een object dat na een tijdje werd teruggebracht naar de verkoper. Bekijk de aanbieding van de verkoper voor de volledige details en een beschrijving van de gebreken. Alle staatdefinities bekijkenwordt in nieuw venster of op nieuw tabblad geopend
Opmerkingen van verkoper
“Removed from a FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope ...
Category
Semiconductor Tools Systems and Components
Inventory #
A-15205
Country/Region of Manufacture
United States
MPN
19174-E
Brand
FEI Company
System/Tool
FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Focused Microscope System
Model
GAIN, FPS, +3KV
UPC
Does not apply

Objectbeschrijving van de verkoper

Reageert meestal binnen 24 uur
Ingeschreven als zakelijke verkoper